Logos SystemsX射線&質子束檢測系統XRV-124

XRV系列X射線和質子束檢測系統將計量與高能輻射探測相結合，形成了一種完全電子化的膠片測量替代方案。該系統能夠以非常高的速度和精度測量細電離輻射束的XYZ位置和矢量。光束矢量、輪廓和發散度可在數秒內獲得，而傳統方法則需要數小時。自動化腳本可用于捕獲光束形狀、強度、位置和方向隨時間的變化，以便后續分析或進行三維體積重建。

XRV系統可驗證質子和X射線治療子系統（機器人、準直器、輻射源和kV成像器）是否協同工作，從而將輻射準確地輸送到形狀不規則的區域。光束位置測量精度可達0.3毫米，測量重復性通常為0.03毫米。矢量和光束查看軟件支持實時任意角度查看所捕獲的數據。該系統可實時采集多達 4,000 幀視頻，幀速率為每秒 1 至 30 幀。

所有操作均由探測器模型配套的筆記本電腦或臺式電腦控制。XRV 配備 30 米（100 英尺）長的光纖供電 USB 電纜系統，以便系統電腦和操作人員可以安全地遠離輻射區域。探測器重約 8 公斤（17 磅）。

• 實時質子和X射線三維束矢量和輪廓捕獲，可進行360度旋轉。
• 140毫米視場長度。
• 4-60毫米束/場寬度。
• 無膠片Winston-Lutz輸送精度分析。
• 快速星形照射模式機架擺動分析。
• 多葉準直器滑動窗口分析。
• 實時捕獲長達10分鐘的VMAT過程。
• VolumeWorks XL重建10×10×15厘米的三維注量體積。
• 用于圖像引導的固定和可調參考標記。
• BeamWorks軟件包含計劃距離、束強度和尺寸的趨勢分析和圖表繪制功能。