ESI多層陶瓷電容器測試系統Allegro XP

Allegro XPTM提供MLCC制造商所需的精度水平，這些制造商生產更大、更高電壓的芯片，用于汽車、物聯網、手持設備和商用通信設備等行業。

Allegro XP采用ESI創造的技術，以高達每小時100萬件的速度可靠地對新一代高壓芯片進行高通量生產級電氣測試，這是業界高的測試吞吐量。

我們的低沖擊旋轉切屑處理技術在保持吞吐量的同時，大限度地減少了與測試相關的切屑損壞。脈沖驅動觸點可大限度地減少終端標記并保持觸點完整性。Allegro XP還可容納多達25個測試站同時執行多個測試，配置簡單，可快速切換到各種生產運行測試設置。ESI Allegro系列的新添加提供了MLCC制造商在全電容范圍內測試各種芯片尺寸所需的靈活性和可靠性。Allegro XP具有低的擁有成本、一貫的高吞吐量和更高的測試產量。

• 高達1kV的高壓應用測試
• 改進運動、工具和操作
• 支持多達八個活動工作站

• 產地：美國
• 高速加工速度高達每分鐘16666件（每小時1000000件）
• 測試芯片尺寸0603-1210（1608-3225公制）
• 解決電容的全范圍：120 Hz/1 kHz&1 MHz
• 支持的活動工作站：多達8個
• 高壓應用測試：高達1kV
• 成本：低
• 吞吐量：高
• 測試產量：高
• 配置：簡單

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